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Product center
產(chǎn)品型號(hào): Airphen
所屬分類:機(jī)載型植物冠層分析儀
更新時(shí)間:2018-07-04
簡(jiǎn)要描述:便攜式植物冠層分析儀測(cè)量的是什么,測(cè)量原理基于貝爾定律,結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?;Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括:太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù),計(jì)算出冠層的有效LAI,結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位,指太陽光線在地平面上的投影與當(dāng)?shù)刈游缇€的夾角。
便攜式植物冠層分析儀測(cè)量的是什么
根據(jù)事先量得的荊條灌叢株高和影響中的株高計(jì)算出圖像與灌叢實(shí)體尺度的比例,然后根據(jù)此比例計(jì)算出荊條灌叢冠層輪廓上其他各點(diǎn)坐標(biāo)。灌叢輪廓線上的點(diǎn)的數(shù)量和位置也不一定均勻分布。冠層輪廓按近似半球面,對(duì)冠層表面參數(shù)不齊的枝葉可取其平均位置作為冠層輪廓的表面。設(shè)置好采樣方式后,對(duì)每一株荊條的測(cè)點(diǎn)位置,將鏡頭放置于冠層上面對(duì)準(zhǔn)天空,測(cè)定一個(gè)數(shù)值后在將鏡頭放置于冠層下所選的測(cè)點(diǎn),做4次重復(fù)測(cè)定,植物冠層分析儀計(jì)算給出冠層的LAI和DIFN。
便攜式植物冠層分析儀如何測(cè)量葉面積指數(shù)
LAI測(cè)量分為直接測(cè)量和間接測(cè)量,直接測(cè)量對(duì)葉片具有破壞性,如格點(diǎn)法、方格法、落葉收集法和分層收割法等。間接測(cè)量方法主要是通過光學(xué)儀器測(cè)量相關(guān)參數(shù)直接或間接推算得到LAI。應(yīng)用比較多的就是間接測(cè)量方法。間接測(cè)量方法按照測(cè)量原理可分為兩種,一種是基于冠層空隙大小的分布來確定的,如植物冠層分析儀和魚眼鏡頭等。一種是基于冠層空隙率來確定的,如植被冠層分析儀。測(cè)量原理基于貝爾定律,結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論,可以反演出對(duì)應(yīng)LAD區(qū)間的LAI分布,定量確定LAI和LAD的關(guān)系。Campbell橢球分布函數(shù)則可以擬合出不同樹種分布參數(shù),以LAD為紐帶,對(duì)比分析兩種理論可判斷測(cè)量的準(zhǔn)確性。
便攜式植物冠層分析儀特點(diǎn)
*兩輪設(shè)計(jì)便于野外快速、輕松獲取數(shù)據(jù)
用戶友好接口、適合大區(qū)實(shí)驗(yàn)
多角度測(cè)量降低直接光照影響
GPS和羅盤精確定位測(cè)量