人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray  Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質上而產生的次級X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素（F）到92號元素（U）。目前其主要應用包括土壤重金屬分析，合金分析以及環(huán)境分析。 

    加拿大EDXpert™ 手持XRF土壤重金屬測量儀是一款設計直觀和用戶友好型系統(tǒng)。EDXpert™ XRFXRF土壤重金屬測量儀與競爭對手區(qū)分開的優(yōu)勢在于, 該分析儀單元已經校正供測量用, 直接從盒子中取出即可，無需頻繁校準。該設計消除了不校準（人為錯誤）對測量結果造成影響。合理市場價格使得我們的EDXpert™手持XRF土壤重金屬測量儀在市場上非常有吸引力，是優(yōu)選設備。常規(guī)使用條件下，便攜式EDXpert™ XRF土壤重金屬測量儀可運行8小時，之后需要充電。EDXpert™ XRF土壤重金屬測量儀運行采用高電壓40kV(可設置達50kV), 檢測元素范圍Cl-U。輕量元素備選檢測范圍是Mg-U。EDXpert™XRF土壤重金屬測量儀由Hewlett- Packard iPAQ PDA 控制，為系統(tǒng)提供了高靈活性和分析性。PDA有一個高分辨率的4英寸觸摸屏,可隨PDA技術進步而更新。合理價格，備選實驗室臺架可使 EDXpert™ XRF土壤重金屬測量儀用作實驗室XRF分析儀, 當與我們臺式EDXpert™ 軟件儀器使用時,立刻有效變?yōu)橐豢钆_式光譜儀。

    EDXpert™ 手持XRF土壤重金屬測量儀，軟件功能簡單，易于操作，實時PDA觸摸屏讀數(shù)。用戶回到實驗室后，結果可輕松傳輸?shù)诫娔X以便長久儲存，分析和生成報告使用。手持型XRF分析儀包括軟件包、備用電池、耐用攜帶箱以及質保等。這不僅僅是低成本備選; 該設備為高精度、高靈活性系統(tǒng)，為諸多的便攜測量應用提供解決方案。該系統(tǒng)的主要應用領域是有害物分析，設備性能超出了RoHS和CPSIA法規(guī)的要求（檢出限達到 (ppm)水準）。另外滿足法規(guī)的是為"現(xiàn)場便攜式XRF分析儀"，土壤檢測中，可提供土壤和沉積物現(xiàn)場RCRA金屬以及非RCRA金屬。

    EDXpert™ XRF是一款具備實驗室分析精度的現(xiàn)場便攜式X射線熒光光譜儀，能夠快速從土壤和沉積物中同時檢測出多達幾十種元素的含量，其中包括所有的8種美國資源保護和回收法（RCRA）規(guī)定的金屬元素(As, Se, Ba, Cd, Cr, Ag, Hg, Pb)。

    適合環(huán)境介質要求：土壤及相關類似松散(顆粒狀)樣品檢測模式;該系列產品被各國的環(huán)保署（EPA）、加拿大、美國各州及各大城市的環(huán)保和健康部門、環(huán)境問題咨詢公司以及的大學和研究機構所廣泛采用。

XRF土壤重金屬測量儀原理

    X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。

    X射線熒光是原子內產生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出的電子會導致該電子殼層出現(xiàn)相應當電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。

XRF土壤重金屬測量儀波長

    元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關，其數(shù)學關系如下：

    λ=K(Z−s)−2

    式中K和S是常數(shù)。

XRF土壤重金屬測量儀能量

    而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：

    E=hν=h C/λ

    式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。

    因此，只要測出熒光X射線的波長或者能量，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外，熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此，可以進行元素定量分析。

XRF土壤重金屬測量儀分類

    不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)

XRF土壤重金屬測量儀特點

    分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

    X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

    非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。

    X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

    分析精密度高。

    制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

    難于作分析，故定量分析需要標樣。

    對輕元素的靈敏度要低一些。

    容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

XRF土壤重金屬測量儀分析

    X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現(xiàn)在已*成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域。

    每個元素的特征X射線的強度除與激發(fā)源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。

    根據(jù)各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。

    EDXpert™可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬分率含量，在開發(fā)或整修學校、社區(qū)中心、住宅、游樂場及運動場以前，這款分析儀是有助于保障環(huán)境安全的重要工具。如果要在以前是垃圾填埋場、工業(yè)場址、果園、飼養(yǎng)場、閑置的污染土地以及其它會發(fā)現(xiàn)高含量有毒金屬的地區(qū)開發(fā)房地產，DELTA分析儀無疑是一件*的工具。此外，在對建筑物及舊房屋進行翻修、重建、恢復及涂漆的過程中，EDXpert™可以迅速探測出土壤和塵埃、建筑物表面、含鉛顏料中的鉛（Pb）元素，從而有助于減少在分析工程是否符合環(huán)境管理規(guī)定的過程中所耗用的資金和時間。